原子間力顕微鏡(AFM)のアサイラム リサーチ

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    MFP-3D 原子間力顕微鏡のための
    NanoRackサンプルストレッチングステージ

        

ストレス・コントロール下における、材料の粘着性やクラッキングのナノ測定が可能になりました!


アサイラム・リサーチ社は、MFP-3D原子間力顕微鏡のための、新しいNanoRackサンプルストレッチングステージを発表しました。この高ひずみ、高伸張距離のマニュアルストレッチングステージは、異なる荷重下で張力をかけたサンプルの、2軸のストレス・コントロールを提供します。自動ロードセル較正により、MFP-3Dのイメージングまたは他の測定と統合したフォース測定を提供し、応力とひずみの両方のデータを返します。最大サンプル荷重は80Nです。NanoRackステージのアプリケーションは、特にブレンドが重合反応器中でin-situで生じるようなポリマーブレンド中の、ナノやマイクロスケールのドメインの界面接着性強度を測定するための直接測定を含みます。さらに、さまざまな生体・無機材料において、クラッキングを引き起こすために必要なフォース測定も、アプリケーションとして含みます。ステージは、MFP-3Dの局所変調熱分析のZthermオプションだけでなく、位相やDual ACといった、さまざまなAFMイメージング技術と互換性があります。

アサイラム・リサーチ社のCEOであるジェイソン・クリーブランドは、この技術を次のように評価しています。
「現在、ストレス・コントロール下でナノスケールの特徴および効果を観察するための、直接測定できる方法は全く存在しません。NanoRackサンプルストレッチングステージは、産業やアカデミックな場において、さまざまな材料におけるポリマー中の接着性の強度や、ストレスで誘発された変形、およびクラッキングの測定に有効であることがすでに実証されております。」





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