原子間力顕微鏡(AFM)のアサイラム テクノロジー 原子間力顕微鏡(AFM)のアサイラム テクノロジー
製品 アプリケーション イメージギャラリー サポート 会社概要 リンク

 ピエゾ応答フォース顕微鏡のためのAR-PPLNテストサンプル       
 


AR-PPLNテストサンプルは、広範囲にわたるピエゾ応答フォース顕微鏡(PFM)技術の練習、セットアップ、そしてその照合用に、便利で信頼性のあるサンプルです。その中には、イメージングとポイントヒステリシスループを含みますが、制限はありません。このリファレンスサンプルは、PFMパラメータの同定と最適化を容易にするために、ストライプのドメインが永久分極されています。


周期分極反転ニオブ酸リチウムテストサンプル(AR-PPLN;Periodically Poled Lithium Niobate)は、3mm×3mm LiNbO3透明ダイ(厚さ0.5mm)からできています。その活性領域は、反対方向に分極したドメインストライプのくり返しパターンになっており、ダイのひとつの軸に平行で、ダイ表面全体をカバーしています。ドメインのピッチは10μmです。

詳しくはカタログをご請求下さい。




高電圧サンプルホルダにクリップで押さえられているAR-PPLN(マウントされていないタイプ)。サンプルがスキャンの軸に対して〜45°に固定され、もしカンチレバーが0°あるいは90°でスキャンしても、ドメインのコントラストが確保されることに留意。




AR-PPLNテストサンプルの立体形状の上に重ね合わせた垂直PFM位相(a)と振幅(b)。水平位相(c)と振幅(d)は同時にイメージをとりました。イメージングはオリンパス製エレクトリレバーで実行。50μmスキャン。







Copyright (C) 2006 Asylum Technology Co.,Ltd. All Rights Reserved