原子間力顕微鏡(AFM)のアサイラム テクノロジー 原子間力顕微鏡(AFM)のアサイラム テクノロジー
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 MFP-3Dシステム用サンプルマウント               
 


MFP-3D AFMシステムで容易に使用できる各種のサンプルマウントを取り揃えております。全てのマウントは1mm厚ガラススライドのようにMFP-3Dスキャナの上にフィットします。またMFP-3Dシステムに装備されている磁石と一緒に使用することができます。


多種類の中から一部をご紹介します。

電気コンタクトサンプルホルダ
ORCAコンダクティブAFMイメージングモジュールと一緒に使用するマウント。P/N 900.150。


フィリップSEMマウントホルダ、12mm
12mmフィリップスタイルSEMマウントに適合したマウント。
フィリップマウントはバネロードで固定し、SEMピンセットでマウントする。P/N 900.143。


日本電子SEMマウントホルダ、10mm
10mm JEOLスタイルSEMマウントに適合したマウント。
日本電子マウントはバネロードで固定し、SEMピンセットでマウントする。P/N 900.144。


他にも多数取り揃えております。詳しくはカタログをご請求下さい。


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